一、工作原理

X射线发生器放出的X射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线－特征X射线。根据受激后退激过程中所放出的特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析；根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。

二、仪器基本特点

探测器采用美国航天技术的半导体探测器，能量分辨率优于149ev；
真空测量，最大限度的提高测量元素的检测限，有利于卤素测量；
自动调整光管功率，对激发轻元素和中重元素都有良好的激发效果；
圆形品仓设计，适应于各种样品的检测，可以测量固体、液体、粉末；
开放式工作曲线标定平台,可量身定做最佳的有害物质检测和控制方案；
采用国际领先的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。
采用模式识别及数据库技术，实现仪器分析智能化； 
配置滤光片装置大幅提高峰背比； 
校正方式：采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据；
可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求。
可以在ROHS分析软件上开展不锈钢、合金、贵金属及全元素分析。 
一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高； 
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）检测；
双重射线保护（软件、硬件），确保操作人员辐射安全，获四川环保局安全豁免管理。

三、主要技术指标

分析元素范围：Mg-U； 
元素含量分析范围：1ppm -99.9%；
采用美国进口的Si (PIN)半导体探测器计数，能量分辨率优于140eV；
测量范围：1－30KeV； 
重复性： >65% >97%(N为计数率)；
正高压：5kV-50kV；管流：1μA-500μA；
真空泵额定功率：550W； 
仪器额定功率：50W； 
整机能量分辨率：145eV； 
检测时间：120S～600S（时间随样品而调整）；
10秒钟真空度可达10-2Pa ，高真空区域10-1-10-5Pa；
最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br/Pb≤5ppm,Cl≤20ppm； 
仪器重量：40Kg； 
仪器尺寸：700（W）* 400（D）*430（H）mm；

四、仪器配置

1 主机1台（大功率钨靶X光管、50KV正高压电源、进口Si (PIN)电致冷半导体探测器、2048道分析器） 
2 压样模具1套 
3 真空系统1套 
4 压样机1套 
5专用软件1套 
6 品牌计算机1套 
7 激光打印机1台 
8 吸尘器1台 
9 随机配件1套

五、实测谱图